仪器设备

超快透射电子显微镜:

(1) 在商用透射电子显微镜基础上对电子枪和样品室进行改造，将商用激光器产生的飞秒激光分别引入电子枪（产生脉冲光电子）和样品室（激发样品），结合高灵敏度CCD相机，利用pump-probe方法可以获得样品超快的衍射、显微及能量损失谱等信息。
(2) 配备多种高低温原位样品台。能很容易地改变样品的物理条件如倾斜、旋转、加热、制冷等。
(3) 整套仪器可以达到400fs的时间分辨率，0.3nm的空间分辨率。
(4) 适用于研究超快晶格动力学，相变过程，电荷序轨道序溶解，化学反应中间态，光诱导相变，非平衡动力学等超快过程。

JEM 2100F 透射电子显微镜

(1) JEM-2100F配备的场发射电子枪(FEG)能获得亮度高、相干性高、稳定性高的电子束，能简便地进行纳米级超高分辨率图像的观察和分析。此外，利用PC的网络功能，可实现与各种分析仪器及图像仪器的联用。
(2) 配备了高亮度、高稳定性的场发射电子枪，使高倍率下的结构分析及纳米领域分析更加简便。 束班直径范围可从微米级到最小的0.5nm，在分析点上能容易地进行纳米级的终极分析。
(3) 新式侧插式测角台。能很容易地改变样品的物理条件如倾斜、旋转、加热、制冷等，可以进行纳米级的分析。
(4) 智能化。图像观察和PC控制的一体化设计。

Hitachi S-4800高分辨冷场发射扫描电镜：

(1) 优秀的低加速电压成像能力，1kv分辨率可达1.3nm；
(2) 不需喷镀，可以直接观测不导电样品；
(3) Upper探头可选择接受二次电子像或背散射电子像；
(4) 景深大，图像三维立体效果明显；
(5) 可根据样品类型和观测要求选择打开或关闭减速功能；
(6) 可利用X射线能谱仪（EDXS）对样品进行成分分布分析。

X射线衍射仪 Bruker D8 Discover ：
(1) X射线源采用Cu靶Kα线，用Ni薄膜进行过滤;
(2) 采用lynx-eye位置探测器，采集效率高，能增强信号强度并大大缩短收集时间;
(3) (3) 样品台有标准台，旋转台和Anton-Paar公司的TTK-830高低温原位台共三个样品台（其中TTK-830高低温原位台能够在惰性气体或真空的环境中对样品冷却或者加热，实现100-700K温度范围内的原位探测。这对于分析温度引起的相变或其他结构变化的材料非常有帮助)。

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