仪器设备
超快透射电子显微镜
- 在商用透射电子显微镜基础上对电子枪和样品室进行改造，将商用激光器产生的飞秒激光分别引入电子枪（产生脉冲光电子）和样品室（激发样品），结合高灵敏度CCD相机，利用pump-probe方法可以获得样品超快的衍射、显微及能量损失谱等信息。
- 配备多种高低温原位样品台。能很容易地改变样品的物理条件如倾斜、旋转、加热、制冷等。
- 整套仪器可以达到400fs的时间分辨率，0.3nm的空间分辨率。
- 适用于研究超快晶格动力学，相变过程，电荷序轨道序溶解，化学反应中间态，光诱导相变，非平衡动力学等超快过程。
JEM 2100F 透射电子显微镜
- JEM-2100F配备的场发射电子枪(FEG)能获得亮度高、相干性高、稳定性高的电子束，能简便地进行纳米级超高分辨率图像的观察和分析。
- 配备了高亮度、高稳定性的场发射电子枪，使高倍率下的结构分析及纳米领域分析更加简便。束斑直径范围可从微米级到最小的0.5nm。
- 新式侧插式测角台。能很容易地改变样品的物理条件如倾斜、旋转、加热、制冷等，可以进行纳米级的分析。
- 智能化。图像观察和PC控制的一体化设计。
Hitachi S-4800高分辨冷场发射扫描电镜
- 优秀的低加速电压成像能力，1kv分辨率可达1.3nm
- 不需喷镀，可以直接观测不导电样品
- Upper探头可选择接受二次电子像或背散射电子像
- 景深大，图像三维立体效果明显
- 可根据样品类型和观测要求选择打开或关闭减速功能
- 可利用X射线能谱仪（EDXS）对样品进行成分分布分析
X射线衍射仪 Bruker D8 Discover
- X射线源采用Cu靶Kα线，用Ni薄膜进行过滤
- 采用lynx-eye位置探测器，采集效率高，能增强信号强度并大大缩短收集时间
- 样品台有标准台，旋转台和Anton-Paar公司的TTK-830高低温原位台共三个样品台
- TTK-830高低温原位台能够在惰性气体或真空的环境中对样品冷却或者加热，实现100-700K温度范围内的原位探测
超快球差校正电镜
- 解决了原子尺度高时空分辨成像难题，建立了国际首台超快球差校正透射电镜
- 实现了350 fs时间分辨率、3Å空间分辨率、1.0eV能量分辨率的国际领先指标
- 结合超快激光泵浦-探测方法，集成高分辨成像、衍射和谱学技术
- 能够在飞秒时间尺度上捕捉材料中原子的运动过程，已在隐含量子态、金属激光加速器等前沿研究中取得原创性成果
超快脉冲压缩电镜
时间分辨生物冷冻电镜
超快扫描电镜
注：以上仅列出部分仪器设备，众多设备尚未在网页更新